A semiconductor device arrangement, a method of analysing a performance of a functional circuit on a semiconductor device and a device analysis system
WO2013160723
Art A1
31. Oktober 2013
Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013160723
- Aktenzeichen
- EP12874987
- Anmeldetag
- 23. April 2012
- Veröffentlichung
- 31. Oktober 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Freescale Semiconductor, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Freescale Semiconductor
Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.
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