Control Imaging Methods in Advanced Ultrafast Electron Microscopy

WO2013170090 Art A1 14. November 2013

Anmelder: California Institute of Technology 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2013170090
Aktenzeichen
EP13788290
Anmeldetag
9. Mai 2013
Veröffentlichung
14. November 2013
Rechtsraum
WO
IPC
G01N23/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
California Institute of Technology
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 California Institute of Technology

Private Forschungsuniversität in Pasadena, Kalifornien (USA), mit Schwerpunkt auf Naturwissenschaften und Ingenieurwesen. Sie betreibt unter anderem das Jet Propulsion Laboratory und zählt zu den weltweit führenden Technikhochschulen.

1.276 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen