Integrated circuits capable of generating test mode control signals for scan tests

WO2013173192 Art A1 21. November 2013

Anmelder: Texas Instruments Incorporated, Texas Instruments Japan Limited 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013173192
Aktenzeichen: EP13791313
Anmeldetag: 10. Mai 2013
Veröffentlichung: 21. November 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26G01R31/3183

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Texas Instruments Incorporated
Texas Instruments Japan Limited
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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