A simulation system and method for testing a simulation of a device against one or more violation rules

WO2013179081 Art A1 5. Dezember 2013

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013179081
Aktenzeichen: EP12877724
Anmeldetag: 13. September 2012
Veröffentlichung: 5. Dezember 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/22G06F11/28G06F9/455

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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