Electronic component testing device, electronic component housing device, electronic component retrieval device, and electronic component testing method

WO2013179949 Art A1 5. Dezember 2013

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013179949
Aktenzeichen: EP13796581
Anmeldetag: 21. Mai 2013
Veröffentlichung: 5. Dezember 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26H01R31/06H01R33/76

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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