Oxide for semiconductor layer in thin-film transistor, thin-film transistor, display device, and sputtering target

WO2013180141 Art A1 5. Dezember 2013

Anmelder: Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.) 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2013180141
Aktenzeichen
EP13797947
Anmeldetag
28. Mai 2013
Veröffentlichung
5. Dezember 2013
Rechtsraum
WO
IPC
H01L29/786H01L21/363
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.)
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Kobe Steel

Japanischer Mischkonzern mit Sitz in Kobe, gegründet 1905. Tätigkeitsfelder umfassen Stahl- und Aluminiumerzeugnisse, Maschinenbau sowie Werkstofftechnik.

1.784 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen