X-ray apparatus and method of measuring x-rays
WO2013183470
Art A1
12. Dezember 2013
Anmelder: Canon Kabushiki Kaisha 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2013183470
- Aktenzeichen
- EP13731507
- Anmeldetag
- 21. Mai 2013
- Veröffentlichung
- 12. Dezember 2013
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/04G01N23/083
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Canon Kabushiki Kaisha
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Canon
Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, der Kameras, Objektive, Drucker, Kopiergeräte sowie optische und medizinische Bildgebungstechnik entwickelt und herstellt.
19.221 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.