Defect determination device, radiography system, and defect determination method

WO2013183758 Art A1 12. Dezember 2013

Anmelder: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013183758
Aktenzeichen: EP13800954
Anmeldetag: 7. Juni 2013
Veröffentlichung: 12. Dezember 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/04G01N23/18

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Mitsubishi Heavy Industries

Japanischer Industriekonzern, der in Bereichen wie Energieerzeugung, Luft- und Raumfahrt, Schiffbau, Maschinenbau und Klimatechnik tätig ist und ein breites Spektrum an Industrieanlagen und -maschinen herstellt.

7.734 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von