Method and circuit for correcting errors in interfered channel environment and a flash memory device using the same

WO2013183827 Art A1 12. Dezember 2013

Anmelder: Korea Advanced Institute of Science and Technology 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013183827
Aktenzeichen: EP12878568
Anmeldetag: 4. Dezember 2012
Veröffentlichung: 12. Dezember 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/10G11C29/42

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Korea Advanced Institute of Science and Technology
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 KAIST

Südkoreanische technische Universität und Forschungsinstitution mit Fokus auf Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologieentwicklung, unter anderem in Robotik und Elektronik.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Software & Datenverarbeitung

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