X-ray apparatus and x-ray measurement method

WO2013187012 Art A1 19. Dezember 2013

Anmelder: Canon Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013187012
Aktenzeichen: EP13735456
Anmeldetag: 5. Juni 2013
Veröffentlichung: 19. Dezember 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G21K1/10

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Canon Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Canon

Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, der Kameras, Objektive, Drucker, Kopiergeräte sowie optische und medizinische Bildgebungstechnik entwickelt und herstellt.

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Fachgebiete

Elektrische Energietechnik

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