Defect-causing-step analysis device and defect-causing-step analysis method

WO2013187430 Art A1 19. Dezember 2013

Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2013187430
Aktenzeichen: EP13803661
Anmeldetag: 12. Juni 2013
Veröffentlichung: 19. Dezember 2013
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01M11/00G02F1/13

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Sharp Kabushiki Kaisha
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

22.803 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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