Apparatus and method for atomic force microscopy

WO2014008456 Art A1 9. Januar 2014

Anmelder: Bruker Nano, Inc., IMEC 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014008456
Aktenzeichen: EP13813705
Anmeldetag: 5. Juli 2013
Veröffentlichung: 9. Januar 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01Q60/24G01Q30/08

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Bruker Nano, Inc.
IMEC
Land: 🇺🇸 USA

🇧🇪 imec

Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.

2.629 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von