Acquisition method for s-parameters in microwave introduction modules, and malfunction detection method
WO2014010356
Art A1
16. Januar 2014
Anmelder: Tokyo Electron Limited 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014010356
- Aktenzeichen
- EP13816152
- Anmeldetag
- 11. Juni 2013
- Veröffentlichung
- 16. Januar 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H05H1/00C23C16/511H01L21/304H01L21/3065H01L21/31H05H1/46
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tokyo Electron Limited
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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