System and method for on-die voltage difference measurement on a pass device, and integrated circuit

WO2014013293 Art A1 23. Januar 2014

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014013293
Aktenzeichen: EP12881402
Anmeldetag: 19. Juli 2012
Veröffentlichung: 23. Januar 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G05F1/565G05F1/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Steuerungs- & Regelungstechnik

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