Inspection device
WO2014017264
Art A1
30. Januar 2014
Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014017264
- Aktenzeichen
- EP13823319
- Anmeldetag
- 3. Juli 2013
- Veröffentlichung
- 30. Januar 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/02G01N21/956
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi High-Technologies Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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