Method for manufacturing target for x-ray emission, and target for x-ray emission
WO2014027624
Art A1
20. Februar 2014
Anmelder: Tokyo Electron Limited 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014027624
- Aktenzeichen
- EP13879473
- Anmeldetag
- 9. August 2013
- Veröffentlichung
- 20. Februar 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01J9/14H01J35/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tokyo Electron Limited
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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