Transverse profile imager for ionizing radiation

WO2014029693 Art A1 27. Februar 2014

Anmelder: Paul Scherrer Institut 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014029693
Aktenzeichen: EP13753838
Anmeldetag: 16. August 2013
Veröffentlichung: 27. Februar 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01T1/29

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Paul Scherrer Institut
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 PAUL Scherrer Institut

Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.

393 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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