Test program, and testing system

WO2014034011 Art A1 6. März 2014

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2014034011
Aktenzeichen
EP13832401
Anmeldetag
18. Juli 2013
Veröffentlichung
6. März 2014
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/28G01R31/26
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Advantest Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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