Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method, radiation-sensitive acid generator, compound and method for producing compound
WO2014034190
Art A1
6. März 2014
Anmelder: JSR Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014034190
- Aktenzeichen
- EP13833591
- Anmeldetag
- 13. Mai 2013
- Veröffentlichung
- 6. März 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/004C07C303/02C07C303/22C07C309/03C07C309/04C07C309/07C07C309/08C07C309/09C07C309/10C07C309/15C07C309/17C07C309/19C07C309/71C07C381/12C07D307/33C07D307/93C07D313/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JSR Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JSR Corporation
JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.
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