Method and apparatus for massively parallel multi-wafer test
WO2014040071
Art A1
13. März 2014
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014040071
- Aktenzeichen
- EP13835790
- Anmeldetag
- 10. September 2013
- Veröffentlichung
- 13. März 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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