Device for evaluating surface state of metal material, device for evaluating visibility of transparent substrate, evaluation program thereof, and computer-readable recording medium recording same

WO2014042256 Art A1 20. März 2014

Anmelder: JX Nippon Mining & Metals Corp. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014042256
Aktenzeichen: EP13837981
Anmeldetag: 13. September 2013
Veröffentlichung: 20. März 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/17G01N21/956H05K3/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: JX Nippon Mining & Metals Corp.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JX Nippon Mining & Metals

JX Nippon Mining & Metals Corporation ist ein japanisches Unternehmen der Nichteisenmetallindustrie, das Kupfer, Halbleitermaterialien und Metallverarbeitung herstellt, Teil der ENEOS-Gruppe.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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