Inspection device, inspection method, and inspection program
WO2014045508
Art A1
27. März 2014
Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014045508
- Aktenzeichen
- EP13838424
- Anmeldetag
- 31. Juli 2013
- Veröffentlichung
- 27. März 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/88G06T1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NEC Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NEC
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.
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