Optical measuring device, method, program, and recording medium
WO2014045820
Art A1
27. März 2014
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014045820
- Aktenzeichen
- EP13838211
- Anmeldetag
- 22. August 2013
- Veröffentlichung
- 27. März 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N21/35
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
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