Methods and devices for measuring resistance of device structures and materials

WO2014046971 Art A1 27. März 2014

Anmelder: Corning Incorporated, Senawiratne, Jayantha 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014046971
Aktenzeichen: EP13767199
Anmeldetag: 13. September 2013
Veröffentlichung: 27. März 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01R27/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Corning Incorporated
Senawiratne, Jayantha
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Corning

US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Corning, New York. Corning ist spezialisiert auf Spezialglas, Keramik und optische Fasern für Displays, Telekommunikation, Automobiltechnik, Life Sciences und Umwelttechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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