Verfahren zum Ermitteln der Permeabilität einer Dielektrischen Schicht eines Optoelektronischen Bauelementes; Vorrichtung zum Ermitteln der Permeabilität einer Dielektrischen Schicht eines Optoelektronischen Bauelementes; Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zum Herstellen eines Optoelektronischen Bauelementes
WO2014049046
Art A1
3. April 2014
Anmelder: OSRAM OLED GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014049046
- Aktenzeichen
- EP13770890
- Anmeldetag
- 26. September 2013
- Veröffentlichung
- 3. April 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L51/52H01L51/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- OSRAM OLED GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
OSRAM
Deutsches Unternehmen für Lichttechnik mit Sitz in München, spezialisiert auf LED-Halbleiterlichtquellen, optische Halbleiter und Automobilbeleuchtung.
3.616 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.