System and method for built-in self test (bist) in an integrated circuit

WO2014049402 Art A1 3. April 2014

Anmelder: Department Of Electronics And Information Technology, Indian Institute Of Science 🇮🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014049402
Aktenzeichen: EP12820935
Anmeldetag: 19. Dezember 2012
Veröffentlichung: 3. April 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3187G01R19/00G01R31/3167

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Department Of Electronics And Information Technology
Indian Institute Of Science
Land: 🇮🇳 Indien

🇮🇳 Indian Institute of Science

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Fachgebiete

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