Defect analyzing device, and defect analyzing method and program

WO2014050378 Art A1 3. April 2014

Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014050378
Aktenzeichen: EP13842965
Anmeldetag: 22. August 2013
Veröffentlichung: 3. April 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01M3/24

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: NEC Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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