Method and system for characterizing integrated circuit design in target semiconductor manufacturing process

WO2014053191 Art A1 10. April 2014

Anmelder: IMEC 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014053191
Aktenzeichen: EP12780113
Anmeldetag: 5. Oktober 2012
Veröffentlichung: 10. April 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G06F17/50

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: IMEC
Land: 🇧🇪 Belgien

🇧🇪 imec

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Fachgebiete

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