Method and system for testing a semiconductor device against electrostatic discharge

WO2014057301 Art A1 17. April 2014

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014057301
Aktenzeichen: EP12886424
Anmeldetag: 10. Oktober 2012
Veröffentlichung: 17. April 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G01R31/3183G01R31/3181

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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