Near field light detection method and heat assisted magnetic head element examination device

WO2014057849 Art A1 17. April 2014

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014057849
Aktenzeichen: EP13844970
Anmeldetag: 2. Oktober 2013
Veröffentlichung: 17. April 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G11B5/455G01Q60/18G01Q80/00G11B5/02G11B5/31

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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