Method for measuring optical film thickness, system for measuring optical film thickness, and program for measuring optical film thickness
WO2014061408
Art A1
24. April 2014
Anmelder: Konica Minolta, Inc. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014061408
- Aktenzeichen
- EP13847970
- Anmeldetag
- 25. September 2013
- Veröffentlichung
- 24. April 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/06G01N21/45
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Konica Minolta, Inc.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Konica Minolta
Japanisches Technologieunternehmen, das Bürodrucksysteme, Multifunktionsgeräte, optische Geräte sowie Mess- und Sensortechnik herstellt.
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