Hybrid gate last integration scheme for multi-layer high-k gate stacks
WO2014062377
Art A2
24. April 2014
Anmelder: Tokyo Electron Limited 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014062377
- Aktenzeichen
- EP13783136
- Anmeldetag
- 2. Oktober 2013
- Veröffentlichung
- 24. April 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/8238H01L21/28H01L29/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tokyo Electron Limited
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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