Pseudo tester-per-site functionality on natively tester-per-pin automatic test equipment for semiconductor test

WO2014062770 Art A1 24. April 2014

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014062770
Aktenzeichen: EP13846931
Anmeldetag: 16. Oktober 2013
Veröffentlichung: 24. April 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/26H01L21/66G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ADVANTEST CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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