Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

WO2014073398 Art A1 15. Mai 2014

Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014073398
Aktenzeichen: EP13853710
Anmeldetag: 25. Oktober 2013
Veröffentlichung: 15. Mai 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/302G01N21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hamamatsu Photonics K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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