Trend Dynamic Sensor Imaging Using Contour Maps To Visualize Multiple Trend Data Sets in A Single View

WO2014074556 Art A1 15. Mai 2014

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014074556
Aktenzeichen: EP13853084
Anmeldetag: 6. November 2013
Veröffentlichung: 15. Mai 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G06F19/00G06F3/14

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Applied Materials, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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