Device for polishing both surfaces of semiconductor wafer and production method for semiconductor wafer
WO2014076955
Art A1
22. Mai 2014
Anmelder: Denso Corporation, National Institute Of Advanced Industrial Science 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014076955
- Aktenzeichen
- EP13855037
- Anmeldetag
- 14. November 2013
- Veröffentlichung
- 22. Mai 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/304B24B37/08B24B37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Denso Corporation
National Institute Of Advanced Industrial Science - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Denso
Japanischer Automobilzulieferer mit Sitz in Kariya (Präfektur Aichi). Denso entwickelt Antriebs, Klima, Sicherheits und Elektroniksysteme für Fahrzeuge sowie Komponenten für Elektromobilität, Fahrerassistenz und Halbleitertechnik.
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🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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Vertreten von
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