Device for polishing both surfaces of semiconductor wafer and production method for semiconductor wafer

WO2014076955 Art A1 22. Mai 2014

Anmelder: Denso Corporation, National Institute Of Advanced Industrial Science 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2014076955
Aktenzeichen
EP13855037
Anmeldetag
14. November 2013
Veröffentlichung
22. Mai 2014
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/304B24B37/08B24B37/28
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Denso Corporation
National Institute Of Advanced Industrial Science
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Denso

Japanischer Automobilzulieferer mit Sitz in Kariya (Präfektur Aichi). Denso entwickelt Antriebs, Klima, Sicherheits und Elektroniksysteme für Fahrzeuge sowie Komponenten für Elektromobilität, Fahrerassistenz und Halbleitertechnik.

13.239 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

3.785 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen