Test piece sampling method, test piece data management method, and test piece model

WO2014077021 Art A1 22. Mai 2014

Anmelder: Sintokogio, Ltd., Fujiwa Denki Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014077021
Aktenzeichen: EP13855372
Anmeldetag: 10. September 2013
Veröffentlichung: 22. Mai 2014
Rechtsraum: WO
IPC: B22D46/00B22C9/00G01N1/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Sintokogio, Ltd.
Fujiwa Denki Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sintokogio, Ltd.

Japanischer Hersteller von Gießerei- und Industrieanlagen (Formmaschinen, Oberflächenbehandlungstechnik) mit Sitz in Nagoya. Patente betreffen Gieß- und Fertigungstechnik.

499 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik

Vertreten von