Debugging in A Semiconductor Device Test Environment

WO2014078196 Art A1 22. Mai 2014

Anmelder: Teradyne, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014078196
Aktenzeichen: EP13854315
Anmeldetag: 8. November 2013
Veröffentlichung: 22. Mai 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G06F9/455

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Teradyne, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Teradyne

Teradyne ist ein US-amerikanischer Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und Elektronik mit Sitz in Massachusetts. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Elektronik-, Software- und Halbleitertechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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