Optical property measurement device and optical property measurement method

WO2014091993 Art A1 19. Juni 2014

Anmelder: Kabushiki Kaisha Topcon, The University of Electro-Communications 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014091993
Aktenzeichen: EP13862012
Anmeldetag: 4. Dezember 2013
Veröffentlichung: 19. Juni 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/17

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Kabushiki Kaisha Topcon
The University of Electro-Communications
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

599 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von