Inspection system and inspection method

WO2014101591 Art A1 3. Juli 2014

Anmelder: Nuctech Company Limited, Tsinghua University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014101591
Aktenzeichen: EP13869751
Anmeldetag: 20. November 2013
Veröffentlichung: 3. Juli 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01V5/00G01N23/04G01N23/00A61B6/03A61B6/10A61B6/12

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Nuctech Company Limited
Tsinghua University
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Nuctech

Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.

814 Patente in unserer Datenbank

🇨🇳 Tsinghua University

Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.

1.696 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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