Method and system for in-line real-time measurements of layers of multilayered front contacts of photovoltaic devices and calculation of opto-electronic properties and layer thicknesses thereof

WO2014105557 Art A1 3. Juli 2014

Anmelder: First Solar, Inc 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014105557
Aktenzeichen: EP13826680
Anmeldetag: 18. Dezember 2013
Veröffentlichung: 3. Juli 2014
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66H01L31/0224

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: First Solar, Inc
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 First Solar

First Solar ist ein US-amerikanischer Hersteller von Dünnschicht-Solarmodulen. Das Patentportfolio konzentriert sich sehr stark auf Halbleiterbauelemente, ergänzt durch Metallurgie sowie Elektro- und Messtechnik. Die Anmeldungen aus 2000 bis 2025 betreffen unter anderem Rückkontakte und Halbleiterkontaktschichten für Photovoltaikmodule.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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