Inspection method and inspection device

WO2014119660 Art A1 7. August 2014

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation, The Regents of the University of California 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014119660
Aktenzeichen: EP14746006
Anmeldetag: 30. Januar 2014
Veröffentlichung: 7. August 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956G01N21/892

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Hitachi High-Technologies Corporation
The Regents of the University of California
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

🇺🇸 University of California

US-amerikanisches öffentliches Universitätssystem mit zahlreichen Standorten (u.a. Berkeley, Los Angeles, San Diego). Die Regents of the University of California halten die Patente aus Forschung in Biotechnologie, Medizin, Materialwissenschaften und Ingenieurwesen.

8.774 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von