Semiconductor device inspection device and semiconductor device inspection method

WO2014119675 Art A1 7. August 2014

Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014119675
Aktenzeichen: EP14745443
Anmeldetag: 30. Januar 2014
Veröffentlichung: 7. August 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/302H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hamamatsu Photonics K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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