Methods for providing spaced lithography features on a substrate by self-assembly of block copolymers

WO2014124795 Art A1 21. August 2014

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2014124795
Aktenzeichen
EP14701223
Anmeldetag
24. Januar 2014
Veröffentlichung
21. August 2014
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/027G03F7/00H01L21/033H01L21/308H01L29/66
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ASML Netherlands B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen