Terahertz Scanning Probe Microscope

WO2014129896 Art A1 28. August 2014

Anmelder: Technische Universiteit Delft 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014129896
Aktenzeichen: EP14708107
Anmeldetag: 20. Februar 2014
Veröffentlichung: 28. August 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01Q60/30G01Q60/40G01N21/35H01Q1/38H01Q13/20H01Q19/06

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Technische Universiteit Delft
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 Technische Universiteit Delft

Niederländische Technische Universität in Delft mit breiter Forschung in Ingenieurwissenschaften und angewandter Technik.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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