Surface charge density measuring device using atomic force microscope

WO2014132341 Art A1 4. September 2014

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014132341
Aktenzeichen: EP13876455
Anmeldetag: 26. Februar 2013
Veröffentlichung: 4. September 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01R29/24G01Q30/14G01Q60/24

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von