X-ray analysis method and x-ray imaging device
WO2014132347
Art A1
4. September 2014
Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014132347
- Aktenzeichen
- EP13876502
- Anmeldetag
- 27. Februar 2013
- Veröffentlichung
- 4. September 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
21.154 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.