Method and apparatus for device testing using multiple processing paths

WO2014143386 Art A1 18. September 2014

Anmelder: Teradyne, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2014143386
Aktenzeichen: EP14765728
Anmeldetag: 10. Januar 2014
Veröffentlichung: 18. September 2014
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Teradyne, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Teradyne

Teradyne ist ein US-amerikanischer Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und Elektronik mit Sitz in Massachusetts. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Elektronik-, Software- und Halbleitertechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

462 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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