High-frequency electromagnetic field measurement device
WO2014147866
Art A1
25. September 2014
Anmelder: Tohoku University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2014147866
- Aktenzeichen
- EP13878767
- Anmeldetag
- 6. September 2013
- Veröffentlichung
- 25. September 2014
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R29/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tohoku University
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
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