High-electron-mobility transistor employing gate first process and manufacturing method for the transistor

WO2014154120 Art A1 2. Oktober 2014

Anmelder: Fudan University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2014154120
Aktenzeichen
EP14775683
Anmeldetag
24. März 2014
Veröffentlichung
2. Oktober 2014
Rechtsraum
WO
IPC
H01L29/778
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Fudan University
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Fudan University

Die Fudan University ist eine chinesische Eliteuniversität mit Sitz in Shanghai und breiter Forschung in Medizin und Chemie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Gesundheit sowie organische Chemie, ergänzt durch Pharma und Halbleitertechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

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